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| MS-3000 |
| 최근 BGA Package의 검사 필요성 증대 MS 검사기: 저렴하고,신뢰성 높은 국제특허 등록 검사기 기존 BGA검사의 단점: X선 검사기활용(고가장비,측면검사한계) |
| - BGA,QEP Video Micro Scope - |
| 종래의 X선을 이용한 검사 병행시보다 신뢰성 높은 검사가능 BGA와 실장기판의Solder접합부분을 시각으로 검사하는 새로운System BGA Ball Short 검사 최상의 System |
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| 측정 샘플 | |
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| MS-3000 System A Type | MS-3000 System B Type | EA |
| MS-3000 (L Probe) | MS-3000 (L Probe) | 1 |
| MS-3000 (H Probe) | 카메라 케이블 | 1 |
| 할로겐광원 (MHF-H50R) | 할로겐광원 (MHF-H50R) | 2 |
| MS-3000 (Back Light LG) | MS-3000 (Back Light LG) | 1 |
| MS-3000 (Back Light arm) | MS-3000 (Back Light arm) | 1 |
| 스탠드 (DS-XYS) | 스탠드 (DS-XYS) | 1 |
| AC 어댑터 | AC 어댑터 | 1 |
| RCA 케이블 | RCA 케이블 | 1 |
| 카메라 케이블 |
| 1 |
| L Probe : 넓은 범위 검사에 적합(70배) H Probe : 상세 검사에 적합(150배) | ||
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